布魯克(北京)科技有限公司-納米表面儀器

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            應用文獻

            光學干涉顯微鏡的原理及應用介紹

            • 應用領域:
            • 檢測項目:未知
            • 發布時間:2015-11-15
            • 參考標準:未知
            • 檢測樣品:未知
            • 瀏覽次數:158次

            用原子力顯微鏡AFM做納米識別刮痕和磨損檢測

            • 應用領域: 材料/消費品
            • 檢測項目:納米識別、刮痕、磨損檢測
            • 發布時間:2016-01-13
            • 參考標準:科研
            • 檢測樣品:膜
            • 瀏覽次數:120次

            產品展示

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            布魯克ContourGT-I 三維光學顯微鏡

            【參考報價】: 【產地】:美國 咨詢留言

            ContourGT-K 三維光學顯微鏡

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