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            第五期 日本電子(JEOL)NMR學習班”日程安排(2019.4.16-2019.4.19)本次培訓會涉及到軟件操作的方面,請大家盡量自帶電腦,我們會準備安裝軟......[全文]

            產品展示

            JIB-4610F聚焦離子束雙束(FIB)

            【型號】:JIB-4610F

            JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

            【型號】:JEM-ARM300F GRAND ARM

            JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡

            【型號】:JEM-1000

            JEM-3200FS 場發射透射電子顯微鏡

            【型號】:JEM-3200FS

            EM-05500TGP TEM斷層掃描系統

            【型號】:EM-05500TGP

            JASM-6200大氣壓掃描電鏡

            【型號】:JASM-6200

            JED-2300T 能譜儀

            【型號】: JED-2300T

            應用文獻

            利用JSM-7800F觀察CP加工的太陽能電池截面

            • 應用領域:
            • 檢測項目:截面加工,表面形貌,成份
            • 發布時間:2016-01-05
            • 參考標準:JEOL Ltd.,
            • 檢測樣品:銅銦鎵硒薄膜太陽能電池 (CIGS)
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